الميكروسكوب الإلكتروني الماسح
SEM & EDX Model FEI INSPECT S50.
- يستخدم للفحص والدراسة الدقيقة للمعادن والسبائك والخزف والبلاستيك والفيبر والعينات البيولوجية ويمتاز بالأتي:
- قدرة تحليلية عالية حتى (3 نانو متر) و(30 كيلو فولت).
- التحليل الدقيق باستخدام الأشعة السينية x-ray
- له القدرة على تحليل العناصر من اليورون وحتى اليورانيوم.